精通ECU访问：现代电子/电气架构中微控制器（µC）和微处理器（µP）的高性能测量与校准

• 构建统一的ECU访问架构：了解如何通过统一的工具，实现对各类控制单元（从微控制器（µC）到高性能微处理器（µP））的高性能数据访问，从而消除工作流的碎片化。
• 经济高效的高吞吐量数据采集：了解如何利用现代微控制器接口实现超过 80 Mbytes/s 的数据传输速率，确保在高负载验证场景下数据的完整性。
• 模块化设计带来灵活性：了解 M-ETK 的模块化设计和基于功能的许可模式如何助您根据具体项目需求打造量身定制的解决方案，同时避免不必要的投资。
• 将 XCP 测量与校准引入 POSIX 系统：了解如何将成熟的基于 XCP 的测量与校准方法论应用于 AUTOSAR Adaptive 及其他基于 POSIX 的环境，同时保留现有的专业知识和工具链。
• 优化校准工作流程：了解在不同ECU架构下采用统一的工具链和数据集管理方案，如何降低学习门槛并提升团队的整体效率。

• 雷纳·施特罗迈尔，
• 斯特凡·西贝里希斯，现场应用工程师，集成校准与应用解决方案部
• 延斯·施耐德，
  

内容创作者：

• 雷纳·施特罗迈尔
• 斯特凡·西贝里希斯
• 延斯·施耐德
• 格特·迈尔